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    Theoretical evaluation of zirconia and hafnia as gate oxides for si microelectronics

    Theoretical evaluation of zirconia and hafnia as gate oxides for si microelectronics von Fiorentini, Vincenzo, Gulleri, Gianluca

    Veröffentlicht in Physical review letters

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    Optical characterization of polysilazane based silica thin films on silicon substrates

    Optical characterization of polysilazane based silica thin films on silicon substrates von Ricci, Pier Carlo, Gulleri, Gianluca, Fumagalli, Francesco, Carbonaro, Carlo Maria, Corpino, Riccardo

    Veröffentlicht in Applied surface science

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    Mechanical stress in silicon nanosized architectures: Defects of SOD processed silica filler

    Mechanical stress in silicon nanosized architectures: Defects of SOD processed silica filler von Ricci, Pier Carlo, Casula, Riccardo, Gulleri, Gianluca, Fumagalli, Francesco, Carbonaro, Carlo Maria, Corpino, Riccardo

    Veröffentlicht in Journal of alloys and compounds

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