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Structural Properties of Tensile-Strained Si Layers Grown on Si0.6Ge0.4 and Si0.5Ge0.5 Virtual Substrates
von
Hartmann, Jean-Michel
,
Abbadie, Alexandra
,
Rouchon, Denis
,
Guinche, Yannick
,
Holliger, Philippe
,
Rolland, Guy
,
Buisson, M.
,
Mermoux, Michel
,
Brunier, F.
,
Defranoux, C.
,
Pierrel, F.
,
Billon, Thierry
Veröffentlicht in
ECS transactions
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