From Memory Device Cross Section to Data Integrity Figures of Space Mass Memories von Walter, D., Herrmann, M., Grurmann, K., Gliem, F.

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TID Test of an 8-Gbit NAND Flash Memory von Schmidt, H., Grurmann, K., Nickson, B., Gliem, F., Harboe-Sorensen, R.

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Radiation Effects in Flash Memories von Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Grurmann, K., Gliem, F., Oldham, T. R., Irom, F., Nguyen, D. N.

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MBU characterization of NAND-Flash memories under heavy-ion irradiation von Grurmann, K., Walter, D., Herrmann, M., Gliem, F., Kettunen, H., Ferlet-Cavrois, V.

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SEU and MBU Angular Dependence of Samsung and Micron 8-Gbit SLC NAND-Flash Memories under Heavy-Ion Irradiation von Grurmann, K., Walter, D., Herrmann, M., Gliem, F., Kettunen, H., Ferlet-Cavrois, V.

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Heavy ion SEE test of 2 Gbit DDR3 SDRAM von Herrmann, M., Grurmann, K., Gliem, F., Kettunen, H., Ferlet-Cavrois, V.

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