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Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion: Determination of micro‐morphologies by atomic force microscopy (AFM)
Veröffentlicht in Vakuum in Forschung und Praxis : Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflèachen und Dünne Schichten
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Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion: Determination of micro‐morphologies by atomic force microscopy (AFM)
Veröffentlicht in Vakuum in Forschung und Praxis : Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflèachen und Dünne Schichten
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