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1
Scanners for near-field microwave microscopy
von
Derkach, V.N.
,
Golovashchenko, R.V.
,
Goroshko, O.V.
,
Korzh, V.G.
,
Anbinderis, T.
,
Laurinavicius, A.
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2
Hardware and Software Complex for MM-Wave Spectroscopic Research
von
Golovashchenko, R.V.
,
Goroshko, O.V.
,
Varavin, A.V.
,
Plevako, A.S.
,
Derkach, V.N.
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3
Investigation of the Low-Loss Dielectric Materials in the Wide Temperature Range
von
Derkach, V.N.
,
Golovashchenko, R.V.
,
Goroshko, O.V.
,
Nedukh, S.V.
,
Tarapov, S.I.
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Dielectric Loss Measurement
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Dielectric Materials
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Dielectric Measurements
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Xplore
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