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High depth resolution analysis of Si/SiGe multilayers with the atom probe
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Quantitative depth profiling of SiGe-multilayers with the Atom Probe
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Surface acoustic wave depth profiling of a functionally graded material
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Erratum: “Experimental studies of dose retention and activation in fin field-effect-transistor-based structures” [ J. Vac. Sci. Technol. B 28, C1H5 (2010)]
Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
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Surface acoustic wave depth profiling of a functionally graded material
Veröffentlicht in Journal of Applied Physics
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Laser ultrasonic analysis of normal modes generated by a voltage pulse on an AT quartz sensor
Veröffentlicht in Ultrasonics
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3D Gabor analysis of transient waves propagating along an AT cut quartz disk
Veröffentlicht in Ultrasonics
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Laser ultrasonic analysis of normal modes generated by a voltage pulse on an AT quartz sensor
Veröffentlicht in Ultrasonics
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3D Gabor analysis of transient waves propagating along an AT cut quartz disk
Veröffentlicht in Ultrasonics
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