Suchergebnisse - Gondran, Carolyn F.H. | OPAC THWS

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Electrical and materials properties of AlN/ HfO2 high-k stack with a metal gate von Reid, Kimberly G., Dip, Anthony, Sasaki, Sadao, Triyoso, Dina, Samavedam, Sri, Gilmer, David, Gondran, Carolyn F.H.

Veröffentlicht in Thin solid films

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2

Atomic force microscope study of three-dimensional nanostructure sidewalls von Hussain, Muhammad Mustafa, Gondran, Carolyn F H, Michelson, Diane K

Veröffentlicht in Nanotechnology

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3

Effect of probe tip size on atomic force microscopy roughness values for very smooth samples von Gondran, Carolyn F. H., Michelson, Diane K.

Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films

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Electrical and materials properties of AlN/ HfO 2 high- k stack with a metal gate von Reid, Kimberly G., Dip, Anthony, Sasaki, Sadao, Triyoso, Dina, Samavedam, Sri, Gilmer, David, Gondran, Carolyn F.H.

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