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Reflectance anisotropy spectroscopy of strain-engineered GaAsBi alloys
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The effect of cyclic voltammetry speed on anion intercalation in HOPG
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Epitaxial growth of organic heterostructures: Morphology, structure, and growth mode
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Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers
Veröffentlicht in Applied surface science
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