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Investigation and characterization of Hg1−xCdxTe epilayers
Veröffentlicht in Journal of alloys and compounds
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Investigation and characterization of Hg1-xCdxTe epilayers
Veröffentlicht in Journal of alloys and compounds
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Linear HgCdTe IR FPA 288×4 with bidirectional scanning
Veröffentlicht in Opto-electronics review
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