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Rapid vapor-phase densification of refractory composites
Veröffentlicht in Materials Science & Engineering R (Switzerland)
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Structural characterization of nanometer SiC films grown on Si
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Guest Editorial
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
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Guest Editorial
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
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Guest Editorial
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
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