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A More Accurate Analytical DC Compact Modeling of Tunneling Field-Effect Transistor for SPICE Simulation
von
Go, Seoyeon
,
Lee, Won Jae
,
Cho, Seongjae
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Journal of semiconductor technology and science
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Ni/GeOx/p+ Si resistive-switching random-access memory with full Si processing compatibility and its characterization and modeling
von
Lee, Jae Yoon
,
Kim, Youngmin
,
Kim, Min-Hwi
,
Go, Seoyeon
,
Ryu, Seung Wook
,
Lee, Jae Yeon
,
Ha, Tae Jung
,
Kim, Soo Gil
,
Cho, Seongjae
,
Park, Byung-Gook
Veröffentlicht in
Vacuum
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