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The Outermost Atomic Layer of Thin Films of Fluorinated Polymethacrylates
Veröffentlicht in Langmuir
VolltextArtikel -
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Quantification of Fluorine Density in the Outermost Atomic Layer
Veröffentlicht in Langmuir
VolltextArtikel -
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Surface segregation of silicon impurities in organic materials
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
VolltextArtikel -
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