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Process-induced defects in VLSI von Kolbesen, B.O., Bergholz, W., Cerva, H., Fiegl, B., Gelsdorf, F., Zoth, G.

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DLTS study of the influence of plastic deformation on deep levels in n-type CdTe von Gelsdorf, F., Schröter, W.

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Electrohydrodynamical transient flow in the liquid aromatics anthracene and naphthalene von Gelsdorf, F., Krause, H.

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Study of an experimental technique for high-temperature deformation of compound semiconductors (liquid encapsulation) von Imhoff, D., Gelsdorf, F., Pellissier, B., Castaing, J.

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A dislocation formation model of trench-induced dislocation in dynamic random access memories von DELLITH, M, BOOKER, G. R, KOLBESEN, B. O, BERGHOLZ, W, GELSDORF, F

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Growth of the Superconducting Phase in Ceramic Y sub 1.2 Ba sub 0.8 CuO sub y Samples von Wordenweber, R, Krebs, H U, Gelsdorf, F

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Process-Induced Defects in Silicon Technology von Cerva, Hans, Kolbesen, Bernd O., Dellith, M., Bergholz, Werner, Booker, R., Gelsdorf, F.

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