Suchergebnisse - Gambou, F. | OPAC THWS

1

$Measurement of refraction index of thick and nontransparent isotropic material using transmission microwave ellipsometry$

Measurement of refraction index of thick and nontransparent isotropic material using transmission microwave ellipsometry von Moungache, A., Bayard, B., Tahir, Abakar Mahamat, Robert, S., Jamon, D., Gambou, F.

Veröffentlicht in Microwave and optical technology letters

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry von Gambou, F., Bayard, B., Noyel, G.

Veröffentlicht in Microwave and optical technology letters

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

$Characterization of the refractive index of isotropic materials by three-detector microwave ellipsometry$

Characterization of the refractive index of isotropic materials by three-detector microwave ellipsometry von Gogo, A I H, Bayard, B, Moungache, A, Gambou, F

Veröffentlicht in International journal of innovation and applied studies

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

ELLIPSOMETRY ON A PLANAR S-SHAPE METAMATERIAL von Verney, Eric, Gambou, Frank

Veröffentlicht in Progress in electromagnetics research. Letters

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in: