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Gate-Induced Drain Leakage in Negative Capacitance FinFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Physics-constrained graph modeling for building thermal dynamics
Veröffentlicht in Energy and AI
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Ferroelectric FDSOI FET modeling for memory and logic applications
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Study of multi-domain switching dynamics in negative capacitance FET using SPICE model
Veröffentlicht in Microelectronics
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