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Preprocessor modeling of parameter and geometry dependences of short and narrow MOSFET's for VLSI circuit simulation, optimization, and statistics with SPICE
von
Wright, G.T.
,
Gaffur, H.M.A.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on electron devices
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Test structures for extraction of MOSFET capacitances
von
Gaffur, H.
,
Sukyoon Yoon
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Measurement and parameter extraction of submicron VLSI MOSFET test structures
von
Wen, C.S.
,
Guldahl, M.
,
Sadwick, L.P.
,
Kent, R.
,
Gaffur, H.
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Alternate metal virtual ground EPROM array implemented in a 0.8 mu m process for very high density applications
von
Kazerounian, R.
,
Bergemont, A.
,
Roy, A.
,
Wolstenholme, G.
,
Irani, R.
,
Shamay, M.
,
Gaffur, H.
,
Rezvani, G.A.
,
Anderson, L.
,
Haggag, H.
,
Shacham, E.
,
Kauk, P.
,
Nielson, P.
,
Kablanian, A.
,
Chhor, K.
,
Perry, J.
,
Sethi, R.
,
Eitan, B.
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Ieee
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ingentaconnect
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