Suchergebnisse - GUETLE, Frank | OPAC THWS

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Investigation of Leakage Current of AlGaN/GaN HEMTs Under Pinch-Off Condition by Electroluminescence Microscopy von Baeumler, Martina, Gütle, Frank, Polyakov, Vladimir, Cäsar, Markus, Dammann, Michael, Konstanzer, Helmer, Pletschen, Wilfried, Bronner, Wolfgang, Quay, Rüdiger, Waltereit, Patrick, Mikulla, Michael, Ambacher, Oliver, Bourgeois, Franck, Behtash, Reza, Riepe, Klaus J., van der Wel, Paul J., Klappe, Jos, Rödle, Thomas

Veröffentlicht in Journal of electronic materials

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INTEGRATED PARTICULATE MATTER SENSOR WITH CAVITY von RÜTHEMANN, Lukas, PUSTAN, David, HOPPENAU, LUKAS, HUNZIKER, Werner, GUETLE, FRANK

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PARTICLE SENSOR von GUETLE, Frank, MERZ, Matthias

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PARTICULATE MATTER SENSOR DEVICE von MRCARICA, Zeljko, THIELE, Stefan, LEIDENBERGER, Ulrich, GUETLE, Frank, KOSTNER, Stefan

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INTEGRATED PARTICULATE MATTER SENSOR WITH CAVITY von RÜTHEMANN, Lukas, PUSTAN, David, HOPPENAU, LUKAS, HUNZIKER, Werner, GUETLE, FRANK

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PARTICULATE MATTER SENSOR DEVICE von MRCARICA, Zeljko, THIELE, Stefan, LEIDENBERGER, Ulrich, GUETLE, Frank, KOSTNER, Stefan

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PARTICULATE MATTER SENSOR DEVICE von LEIDENBERGER ULRICH, MRCARICA ZELJKO, GUETLE FRANK, THIELE STEFAN, KOSTNER STEFAN

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캐비티를 가지는 집적된 미립자 물질 센서 von HOPPENAU LUKAS, GUETLE FRANK, RUETHEMANN LUKAS, HUNZIKER WERNER, PUSTAN DAVID

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PARTICULATE MATTER SENSOR DEVICE von LEIDENBERGER ULRICH, MRCARICA ZELJKO, GUETLE FRANK, THIELE STEFAN, KOSTNER STEFAN

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미립자 센서 장치 von LEIDENBERGER ULRICH, MRCARICA ZELJKO, GUETLE FRANK, THIELE STEFAN, KOSTNER STEFAN

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11

Shielded sensor device von ZELJKO MRCARICA, STEFAN KOSTNER, FRANK GUETLE, STEFAN THIELE, ULRICH LEIDENBERGER

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12

Microscopic Degradation Analysis of RF-Stressed AlGaN/GaN HEMTs von Müller, Stefan, Altmann, Frank, Baeumler, Martina, Walcher, Herbert, Kiefer, Rudolf, Quay, Rüdiger, Simon, Michel, Ambacher, Oliver, Bronner, Wolfgang, Waltereit, Patrick, Graff, Andreas, Mikulla, Michael, Gütle, Frank, Cäsar, Markus, Dammann, Michael

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