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Profit persistence in the 'very' long run: evidence from survivors and exiters
Veröffentlicht in Applied economics
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Reliability of ultra thin oxide and nitride films in the 1 nm to 2 nm range
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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The effects of sunk costs on entry and exit: evidence from 36 countries
Veröffentlicht in Economics letters
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Interstitial iron and thermal defects in silicon
Veröffentlicht in Physica status solidi. A, Applied research
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