Suchergebnisse - GRAVES, Trey John S | OPAC THWS

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확률적 포토레지스트 두께 결함들의 예측 및 계측 von GRAVES TREY JOHN S, PARSEY GUY, LI XIAOHAN, BUROV ANATOLY, VUKKADALA PRADEEP, ZHANG CAO, BAI KUNLUN, HIGGINS CRAIG

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네거티브 톤 현상 가능한 포토 레지스트의 컴퓨터 모델링 및 시뮬레이션을 위한 개선된 방법 von BLANKENSHIP DAVID A, SMITH MARK D, BIAFORE JOHN J, GRAVES TREY (JOHN) S, VAGLIO PRET ALESSANDRO

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PREDICTION AND METROLOGY OF STOCHASTIC PHOTORESIST THICKNESS DEFECTS von BAI, Kunlun, ZHANG, Cao, BUROV, Anatoly, VUKKADALA, Pradeep, GRAVES, Trey John S, LI, Xiaohan, PARSEY, Guy, HIGGINS, Craig

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IMPROVED METHOD FOR COMPUTER MODELING AND SIMULATION OF NEGATIVE-TONE-DEVELOPABLE PHOTORESISTS von BLANKENSHIP, David A, BIAFORE, John J, SMITH, Mark D, GRAVES, Trey (John) S, VAGLIO PRET, Alessandro

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PREDICTION AND METROLOGY OF STOCHASTIC PHOTORESIST THICKNESS DEFECTS von BAI, Kunlun, ZHANG, Cao, BUROV, Anatoly, VUKKADALA, Pradeep, GRAVES, Trey John S, LI, Xiaohan, PARSEY, Guy, HIGGINS, Craig

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IMPROVED METHOD FOR COMPUTER MODELING AND SIMULATION OF NEGATIVE-TONE-DEVELOPABLE PHOTORESISTS von BLANKENSHIP, David A, BIAFORE, John J, SMITH, Mark D, GRAVES, Trey (John) S, VAGLIO PRET, Alessandro

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IMPROVED METHOD FOR COMPUTER MODELING AND SIMULATION OF NEGATIVE-TONE-DEVELOPABLE PHOTORESISTS von BLANKENSHIP, David A, BIAFORE, John J, SMITH, Mark D, GRAVES, Trey (John) S, VAGLIO PRET, Alessandro

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IMPROVED METHOD FOR COMPUTER MODELING AND SIMULATION OF NEGATIVE-TONE-DEVELOPABLE PHOTORESISTS von BLANKENSHIP DAVID A, SMITH MARK D, BIAFORE JOHN J, GRAVES TREY (JOHN) S, VAGLIO PRET ALESSANDRO

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Assignment test method using hypervariable markers for blue marlin (Makaira nigricans) stock identification von Sorenson, Laurie, McDowell, Jan R., Knott, Trey, Graves, John E.

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