Impact of nitrogen post deposition annealing on hafnium zirconate dielectrics for 32 nm high-performance SOI CMOS technologies von Kelwing, T., Naumann, A., Trentzsch, M., Graetsch, F., Bayha, B., Herrmann, L., Trui, B., Rudolph, D., Lipp, D., Krause, G., Carter, R., Stephan, R., Kücher, P., Hansch, W.

Volltext

Impact of physical and electrical thickness scaling on the reliability of plasma-nitrided gate dielectrics in a 90 nm SOI manufacturing technology von Geilenkeuser, R., Wieczorek, K., Mantei, T., Graetsch, F., Herrmann, L., Weidner, J.-O.

Volltext

Impact of nitrogen post deposition annealing on hafnium zirconate dielectrics for 32nm high-performance SOI CMOS technologies von Kelwing, T., Naumann, A., Trentzsch, M., Graetsch, F., Bayha, B., Herrmann, L., Trui, B., Rudolph, D., Lipp, D., Krause, G., Carter, R., Stephan, R., Kücher, P., Hansch, W.

Volltext

Application of fast wafer-level reliability PBTI tests for screening of High-k / Metal Gate process splits von Krause, G., Geilenkeuser, R., Trentzsch, M., Graetsch, F., Herrmann, L.

Volltext

Physical and Electrical Properties of MOCVD and ALD Deposited HfZrO 4 Gate Dielectrics for 32nm CMOS High Performance Logic SOI Technologies von Kelwing, Torben, Mutas, Sergej, Trentzsch, Martin, Naumann, Andreas, Trui, Bernhard, Herrmann, Lutz, Graetsch, Falk, Klein, Christoph, Wilde, Lutz, Ohsiek, Susanne, Weisheit, Martin, Peeva, Anita, Richter, Inka, Prinz, Hartmut, Wuerfel, Alexander, Carter, Rick, Stephan, Rolf, Kücher, Peter, Hansch, Walter

Volltext

Reliability Guard Band Reduction by Differential Targeting of pMOS Gate Oxide Thickness von Geilenkeuser, R., Wieczorek, K., Trentzsch, M., Graetsch, F., Bayha, B., Samohvalov, V., Paetzold, T., Schink, T.

Volltext

Reliability Guard Band Reduction by Differential Targeting of pMOS Gate Oxide Thickness von Geilenkeuser, R., Wieczorek, K., Trentzsch, M., Graetsch, F., Bayha, B., Samohvalov, V., Paetzold, T., Schink, T.

Volltext

Reliability response of plasma nitrided gate dielectrics to physical and electrical CET-scaling von Geilenkeuser, R.

Volltext bestellen

SILL WITH DETACHABLE WATER DRAINAGE TROUGH FOR HIGH DIFFERENTIAL PRESSURE PERFORMANCE von Yagla David L, Graetsch Chris F, Kindt Derek L, Totten Arin A, Edwards Christopher D

Volltext bestellen

SILL WITH DETACHABLE WATER DRAINAGE TROUGH FOR HIGH DIFFERENTIAL PRESSURE PERFORMANCE von TOTTEN, ARIN A, YAGLA, DAVID L, GRAETSCH, CHRIS F, EDWARDS, CHRISTOPHER D, KINDT, DEREK L

Volltext bestellen

SOI and low-K in high-volume manufacturing von GREENLAW, D, BURBACH, G, HUEBLER, P, KIRSCH, R, KRUEGEL, S, LANGER, E, PAWLOWITSCH, A, RUELKE, H, SCHUEHRER, H, STEPHAN, R, WEI, A, WERNER, T, FEUDEL, T, WIECZOREK, K, RAAB, M, FEUSTEL, F, FROHBERG, K, GRAETSCH, F, GRASSHOFF, G, HARTIG, C, HEMPEL, K, HORSTMANN, M

Volltext

Taking SOI substrates and low-k dielectrics into high-volume microprocessor production von Greenlaw, D., Burbach, G., Feudel, T., Feustel, F., Frohberg, K., Graetsch, F., Grasshoff, G., Hartig, C., Heller, T., Hempel, K., Horstmann, M., Huebler, P., Kirsch, R., Kruegel, S., Langer, E., Pawlowitsch, A., Ruelke, H., Schuehrer, H., Stephan, R., Wei, A., Werner, T., Wieczorek, K., Raab, M.

Volltext bestellen

Forebrain dopamine neurons project down to a brainstem region controlling locomotion von Ryczko, Dimitri, Grätsch, Swantje, Auclair, François, Dubé, Catherine, Bergeron, Saskia, Alpert, Michael H., Cone, Jackson J., Roitman, Mitchell F., Alford, Simon, Dubuc, Réjean

Volltext

Duality and finite elements von Grätsch, Thomas, Hartmann, Friedel

Volltext

Fault tolerance under UNIX von Borg, Anita, Blau, Wolfgang, Graetsch, Wolfgang, Herrmann, Ferdinand, Oberle, Wolfgang

Volltext

Über ein Fehlerbild bei der Schnittgroessenermittlung mit finiten Elementen. Teil 1 : Scheiben von GRAETSCH, T, HARTMANN, F

Volltext

Crystallographic and magnetic investigation on W-type-hexaferrite single crystals in the solid solution series SrZn2-xCoxFe16O27 von Graetsch, H., Haberey, F., Leckebusch, R., Rosenberg, M., Sahl, K.

Volltext

Crystallographic and magnetic investigation on W-type-hexaferrite single crystals in the solid solution series SrZn 2-x Co x Fe 16 O 27 von Graetsch, H., Haberey, F., Leckebusch, R., Rosenberg, M., Sahl, K.

Volltext

Zum Gleichgewicht bei finiten Elementen von Grätsch, T., Hartmann, F.

Volltext

Über ein Fehlerbild bei der Schnittgrößenermittlung mit finiten Elementen, Teil 2: Platten von Grätsch, T., Hartmann, F.

Volltext