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Reliability Express Control of the Gate Dielectric of Semiconductor Devices
Veröffentlicht in Pribory i metody izmererij
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Modeling of the parameters of bipolar transistors
Veröffentlicht in Journal of engineering physics and thermophysics
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Model of Laser Gettering of Fast-Diffusing Impurities
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Modeling of Diffusion Synthesis of Titanium Disilicide
Veröffentlicht in Journal of engineering physics and thermophysics
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METHOD AND CONTROL SET-UP OF SILICON WAFER FLATNESS
Veröffentlicht in Pribory i metody izmererij
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