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Eliptical mirror position correction based on caustic analysis
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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XPS and atomic force microscopy analyses of thin Au and Cu films on Pd
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Micro-reactors for characterization of nanostructure-based sensors
Veröffentlicht in Review of scientific instruments
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Chemical state of phosphorous at the SiC/SiO2 interface
Veröffentlicht in Thin solid films
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