Treffer
1 - 14
von
14
für Suche '
GISDAKIS,SPYRIDON
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - GISDAKIS,SPYRIDON
Treffer
1 - 14
von
14
für Suche '
GISDAKIS,SPYRIDON
'
, Suchdauer: 0,48s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Method for the implantation of dopant
von
GISDAKIS
,
SPYRIDON
,
ZELLNER
,
MICHAELA
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Growing monocrystal on crystallisation nucleus - immersing in metallic melt contg. dissolved substance to be crystallised
von
GISDAKIS,SPYRIDON
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Purification of solid epitaxial deposition sources - by dissolution in metal melt and resolidification on melt surface
von
GISDAKIS,SPYRIDON
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
APPARATUS AND PROCESS FOR ANNEALING SEMICONDUCTOR WAFERS
von
GISDAKIS, SPYRIDON
,
HOEPFNER, JOACHIM
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
5
DEVICE FOR THE IMPLEMENTATION OF A CURING PROCESS AT A SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD FOR CURING A SEMICONDUCTOR WAFER
von
GISDAKIS
,
SPYRIDON
,
HOEPFNER
,
JOACHIM
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
6
MEASURING INSTRUMENT FOR DETERMINING THE TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR BODIES AND METHOD FOR THE MANUFACTURE OF THE MEASURING INSTRUMENT
von
GISDAKIS
,
SPYRIDON
,
TEWS
,
HELMUT
,
ZWICKNAGL
,
PETER
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
7
TEMPERATURE-MEASUREMENT DEVICE FOR SEMICONDUCTORS, PROCESS FOR ITS MANUFACTURE AND PROCESS FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF SEMICONDUCTORS DURING ANNEALING PROCESSES
von
GISDAKIS, SPYRIDON
,
TEWS, HELMUT
,
ZWICKNAGL, PETER
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
8
TEMPERATURE-MEASUREMENT DEVICE FOR SEMICONDUCTORS, PROCESS FOR ITS MANUFACTURE AND PROCESS FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF SEMICONDUCTORS DURING ANNEALING PROCESSES
von
GISDAKIS, SPYRIDON
,
TEWS, HELMUT
,
ZWICKNAGL, PETER
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
9
Apparatus and process for annealing semiconductor wafers
von
GISDAKIS, SPYRIDON
,
HOEPFNER, JOACHIM
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
10
Implantation of dopant into semiconductor material
von
GISDAKIS, SPYRIDON, 81735 MUENCHEN, DE
,
ZELLNER, MICHAELA, 82024 TAUFKIRCHEN, DE
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
11
Gallium melt satd. with gallium arsenide - for use as source for gas-phase epitaxy
von
GISDAKIS, SPYRIDON., 8000 MUENCHEN
,
HUBER, HEINRICH, 8042 OBERSCHLEISSHEIM
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
12
Ascertaining crystallographic orientation of semiconductor wafer - determining deflection of reflected light beam at both natural split planes in horizontal and vertical directions
von
TEWS, HELMUT., 8025 UNTERHACHING, DE
,
GISDAKIS, SPYRIDON., 8000 MUENCHEN, DE
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
13
TEMPERATURE-MEASUREMENT DEVICE FOR SEMICONDUCTORS AND PROCESS FOR ITS MANUFACTURE
von
GISDAKIS, SPYRIDON
,
TEWS, HELMUT
,
ZWICKNAGL, PETER
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
14
MESSVORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER TEMPERATUR VON HALBLEITERKOERPERN, VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DER MESSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER TEMPERATUR VON HALBLEITERKOERPE...
von
GISDAKIS,SPYRIDON
,
ZWICKNAGL,PETER,.DR
,
TEWS,HELMUT,.DR
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Online Resources
14 Treffer
14
Format
Patents
14 Treffer
14
Schlagworte
Basic Electric Elements
10 Treffer
10
Electric Solid State Devices Not Otherwise Provided For
10 Treffer
10
Electricity
10 Treffer
10
Semiconductor Devices
10 Treffer
10
After-Treatment Of Single Crystals Or A Homogeneouspolycrystalline Material With Defined Structure
8 Treffer
8
Apparatus Therefor
8 Treffer
8
Chemistry
8 Treffer
8
Crystal Growth
8 Treffer
8
Metallurgy
8 Treffer
8
Production Of A Homogeneous Polycrystalline Material Withdefined Structure
8 Treffer
8
Refining By Zone-Melting Of Material
8 Treffer
8
Single Crystals Or Homogeneous Polycrystalline Material Withdefined Structure
8 Treffer
8
Single-Crystal-Growth
8 Treffer
8
Unidirectional Solidification Of Eutectic Material Orunidirectional Demixing Of Eutectoid Material
8 Treffer
8
Measuring
6 Treffer
6
Physics
6 Treffer
6
Testing
6 Treffer
6
General Tagging Of Cross-Sectional Technologies Spanning Over Several Sections Of The Ipc
5 Treffer
5
General Tagging Of New Technological Developments
5 Treffer
5
Measuring Quantity Of Heat
5 Treffer
5
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
14 Treffer
14