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Inter-Device Radiation-Induced Leakages in the Bulk 180-nm CMOS Technology
Veröffentlicht in Russian microelectronics
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Диагностика синдрома лимбальной недостаточности
Veröffentlicht in Oftalʼmokhirurgii͡a︡ = Ophthalmosurgery
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On the precrystallization phase formation
Veröffentlicht in Die Naturwissenschaften
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High voltage electron microscopy of corundum single crystals
Veröffentlicht in Physica status solidi. A, Applied research
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