The International Integrated Reliability Workshop Held October 2008 von Geilenkeuser, Rolf

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Compensation of operating time-related degradation of operating speed by a constant total die power mode von WIATR MACIEJ, HELLER RICHARD, GEILENKEUSER ROLF

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Influence of hydrostatic pressure on the thermal properties of polymers at low temperatures von Jäckel, Manfred, Weise, Frank, Opitz, Jörg, Geilenkeuser, Rolf

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Kompensation der Verringerung der Arbeitsgeschwindigkeit abhängig von der Betriebszeit durch einen Modus mit konstanter Gesamtchipleistung von WIATR, MACIEJ, HELLER, RICHARD, GEILENKEUSER, ROLF

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COMPENSATION OF OPERATING TIME-RELATED DEGRADATION OF OPERATING SPEED BY A CONSTANT TOTAL DIE POWER MODE von WIATR MACIEJ, HELLER RICHARD, GEILENKEUSER ROLF

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Low-temperature thermal conductivity of amorphous Polycarbonat under high pressure von Geilenkeuser, Rolf, Weise, Frank, Jäckel, Manfred

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Integrated semiconductor structure for reliability tests of dielectrics von GEILENKEUSER ROLF, WIECZOREK KARSTEN, WEIDNER JOERG-OLIVER

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Integrated semiconductor structure for reliability tests of dielectrics von Wieczorek, Karsten, Geilenkeuser, Rolf, Weidner, Jörg-Oliver

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Integrated semiconductor structure for reliability tests of dielectrics von Geilenkeuser, Rolf, Wieczorek, Karsten, Weidner, Jorg-Oliver

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Integrated semiconductor structure for reliability tests of dielectrics von WEIDNER JORG-OLIVER, GEILENKEUSER ROLF, WIECZOREK KARSTEN

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Kompensation der Verringerung der Arbeitsgeschwindigkeit abhängig von der Betriebszeit durch einen Modus mit konstanter Gesamtchipleistung von WIATR, MACIEJ, HELLER, RICHARD, GEILENKEUSER, ROLF

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Method for determining projected lifetime of semiconductor devices with analytical extension of stress voltage window by scaling of oxide thickness von Zhang, John, Taylor, Kurt, Zhao, Eugene, Marathe, Amit, Geilenkeuser, Rolf, Weidner, Joerg-Oliver

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Method for determining projected lifetime of semiconductor devices with analytical extension of stress voltage window by scaling of oxide thickness von ZHANG JOHN, MARATHE AMIT, TAYLOR KURT, ZHAO EUGENE, GEILENKEUSER ROLF, WEIDNER JOERG-OLIVER

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Verbesserte integrierte Halbleiterstruktur für Zuverlässigkeitsprüfungen von Dielektrika von WEIDNER, JOERG-OLIVER, WIECZOREK, KARSTEN, GEILENKEUSER, ROLF

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Verbesserte integrierte Halbleiterstruktur für Zuverlässigkeitsprüfungen von Dielektrika von WEIDNER, JOERG-OLIVER, WIECZOREK, KARSTEN, GEILENKEUSER, ROLF

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Quality control in urinary stone analysis: results of 44 ring trials (1980–2001) von Hesse, Albrecht, Kruse, Rolf, Geilenkeuser, Wolf-Jochen, Schmidt, Matthias

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Multi-center proficiency tests for Lab-MELD score diagnostics to improve the quality and safety for patients awaiting liver transplantation von Kaiser, Thorsten, Zeuzem, Stefan, Lichtinghagen, Ralf, Welker, Martin W., Geilenkeuser, Wolf J., Kruse, Rolf, Neumaier, Michael, Thiery, Joachim, Schmidt, Michael

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Modifications of haematology analyzers to improve cell counting and leukocyte differentiating in cerebrospinal fluid controls of the Joint German Society for Clinical Chemistry and... von Kleine, Tilmann O, Nebe, C. Thomas, Löwer, Christa, Lehmitz, Reinhard, Kruse, Rolf, Geilenkeuser, Wolf-Jochen, Dorn-Beineke, Alexandra

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Evaluation of cell counting and leukocyte differentiation in cerebrospinal fluid controls using hematology analyzers by the German Society for Clinical Chemistry and Laboratory Med... von Kleine, Tilmann O., Nebe, C. Thomas, Löwer, Christa, Lehmitz, Reinhard, Geilenkeuser, Wolf-Jochen, Kruse, Rolf, Dorn-Beineke, Alexandra

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The new RiliBAEK- Remarks by the “Referenzinstitut für Bioanalytik” (RfB) von Kruse, Rolf, Geilenkeuser, Wolf-Jochen

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