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    Structural analysis of HgCdTe and PbSnTe native oxide films

    Structural analysis of HgCdTe and PbSnTe native oxide films von Berchenko, N. N., Fruginskii, M. S., Kurilo, I. V., Rudyj, I. O., Virt, I. S.

    Veröffentlicht in Surface and interface analysis

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    Lattice parameter change in submicron Si whiskers

    Lattice parameter change in submicron Si whiskers von Klimovskaya, A.I, Ostrovskii, I.P, Fadeyev, S.V, Fruginskii, M.S, Rudyi, I.O

    Veröffentlicht in Thin solid films

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