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Depth inhomogeneity of porous silicon layers
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Analysis of the depth homogeneity of p-PS by reflectance measurements
Veröffentlicht in Thin solid films
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Interpretation of the dielectric function of porous silicon layers
Veröffentlicht in Applied surface science
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Porous silicon layers as a model system for nanostructures
Veröffentlicht in Applied surface science
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Growth mode and interface formation of Sb on GaAs(100)
Veröffentlicht in Surface science
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The influence of nanocrystals on the dielectric function of porous silicon
Veröffentlicht in Applied surface science
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Growth mode and interface formation of Sb on GaAs (100)
Veröffentlicht in Surface science
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