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Design and validation of 0.25 (mu m) integrated circuit yield model
Veröffentlicht in Semiconductor international
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Defect-data management system at sematech
Veröffentlicht in Solid state technology
VolltextMagazinearticle -
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Design and validation of 0.25 μm integrated circuit yield model
Veröffentlicht in Semiconductor international
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Defect-data management system at SEMATECH
Veröffentlicht in Solid state technology
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Signatures of mutational processes in human cancer
Veröffentlicht in Nature (London)
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Processed pseudogenes acquired somatically during cancer development
Veröffentlicht in Nature communications
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