-
1
-
2
-
3
-
4
Diffusion of copper through dielectric films under bias temperature stress
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
5
Thin film interaction between titanium and polycrystalline silicon
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
6
-
7
-
8
-
9
-
10
Effect of a contact and protective seal on aluminum electromigration
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
11
-
12
The complications of coronary arteriography
Veröffentlicht in Circulation (New York, N.Y.)
VolltextArtikel -
13
-
14
Resistivities of Thin Film Transition Metal Silicides
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
VolltextArtikel -
15
Electromigration in fine-line sputter-gun Al
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
16
-
17
Constructing a curriculum vitae: the radiologist's resume
Veröffentlicht in American journal of roentgenology (1976)
VolltextArtikel -
18
Regional cerebral blood flow during hypercapnia in the anesthetized rabbit
Veröffentlicht in Stroke (1970)
VolltextArtikel -
19
-
20