-
1
Electromigration drift and threshold in Cu thin-film interconnects
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
2
Temperature dependence of electromigration threshold in Cu
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
3
-
4
A novel micromachining technique for the formation of extrusions
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
-
12
T.06.7 INCIDENT COLORECTAL CANCER IN INFLAMMATORY BOWEL DISEASE
Veröffentlicht in Digestive and liver disease
VolltextArtikel -
13
-
14
-
15
-
16
-
17
-
18
-
19
Formation of CdS nanocrystals in SiO2 by ion implantation
Veröffentlicht in Journal of non-crystalline solids
VolltextArtikel -
20