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Monte Carlo simulation of electron velocity in degenerate GaAs
von
Pantoja, J.M.M.
,
Franco, J.L.S.
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IEEE electron device letters
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Accuracy of nonoscillating one-port noise measurements
von
Pantoja, J.M.M.
,
Grub, A.
,
Krozer, V.
,
Franco, J.L.S.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on instrumentation and measurement
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