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Stability of silver nanowire based electrodes under environmental and electrical stresses
von
Mayousse, Céline
,
Celle, Caroline
,
Fraczkiewicz, Alexandra
,
Simonato, Jean-Pierre
Veröffentlicht in
Nanoscale
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Correlation between electromigration-related void volumes and time-to-failure, the high-resolution x-ray tomography’s vital support
von
Moreau, Stéphane
,
Fraczkiewicz, Alexandra
Veröffentlicht in
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics
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3
Correlation Between Electromigration-Related Void Volumes and Time-to-Failure by High Resolution X-Ray Tomography and Modeling
von
Moreau, Stephane
,
Fraczkiewicz, Alexandra
,
Bouchu, David
,
Bleuet, Pierre
,
Cloetens, Peter
,
Cesar Da Silva, Julio
,
Manzanarez, Herve
,
Lorut, Frederic
,
Lhostis, Sandrine
Veröffentlicht in
IEEE electron device letters
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4
Stability of silver nanowire based electrodes under environmental and electrical stressesElectronic supplementary information (ESI) available: Further characteristics of AgNW stabi...
von
Mayousse, Céline
,
Celle, Caroline
,
Fraczkiewicz, Alexandra
,
Simonato, Jean-Pierre
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5
Développement de la tomographie par rayons X en synchrotron pour l'industrie : application à l'analyse de défaillance en intégration 3D
von
Fraczkiewicz, Alexandra
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Journal Of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology And Microelectronics
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Journal Of Vacuum Science And Technology. B, Nanotechnology & Microelectronics
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Royal Society Of Chemistry Journals 2008-
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