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    Observation of a dynamical central peak in the light-scattering spectrum of a glass

    Observation of a dynamical central peak in the light-scattering spectrum of a glass von Firstein, L. A., Cherlow, J. M., Hellwarth, R. W.

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    Environmental SEM and conventional SEM imaging of electron-sensitive resist: Contrast quality and metrological applications

    Environmental SEM and conventional SEM imaging of electron-sensitive resist: Contrast quality and metrological applications von Peters, K.-R., Firstein, L.A., Noz, A.

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    HERSTELLUNG UND VERWENDUNG EINES EICHSYSTEMS IN SUBMIKRONBEREICH

    HERSTELLUNG UND VERWENDUNG EINES EICHSYSTEMS IN SUBMIKRONBEREICH von FIRSTEIN, A, ROGERS, L, NOZ, ARTHUR

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    HERSTELLUNG UND VERWENDUNG EINES EICHSYSTEMS IN SUBMIKRONBEREICH

    HERSTELLUNG UND VERWENDUNG EINES EICHSYSTEMS IN SUBMIKRONBEREICH von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON, A, ROGERS, JOHN, L

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    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD

    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON, A, ROGERS, JOHN, L

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    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD

    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON, A, ROGERS, JOHN, L

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    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD

    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON, A, ROGERS, JOHN, L

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    Fabrication and use of sub-micron dimensional standard

    Fabrication and use of sub-micron dimensional standard von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON A, ROGERS, JOHN L

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    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD

    FABRICATION AND USE OF A SUB-MICRON DIMENSIONAL STANDARD von NOZ, ARTHUR, FIRSTEIN, LEON, A, ROGERS, JOHN, L

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