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    A model for the mechanism of field interaction at silicon AFM tips in photon tunneling transfer

    A model for the mechanism of field interaction at silicon AFM tips in photon tunneling transfer von Fillard, Jean-Pierre, Castagné, Michel, Prioleau, Christel, Benfedda, Mohamed, Bonnafe, J.

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    Reconnaissance des défauts et traitement d'images pour les composés III-V

    Reconnaissance des défauts et traitement d'images pour les composés III-V von FILLARD, J.-P


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    Quelques réflexions estivales sur le thème : L’ennui naquit un jour de l’uniformité

    Quelques réflexions estivales sur le thème : L’ennui naquit un jour de l’uniformité von Fillard, Jean-Pierre

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    Implantable miniature dosimeter for radiotherapy - uses fibre optic guide to transmit IR heating radiation to sensitive pastille

    Implantable miniature dosimeter for radiotherapy - uses fibre optic guide to transmit IR heating radiation to sensitive pastille von PETER BRAUNLICH, JEAN GASIOT ET JEAN-PIERRE FILLARD

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    INTELLIGENTER OPTISCHER SENSOR FÜR OPTISCHE NAHFELDVORRICHTUNG

    INTELLIGENTER OPTISCHER SENSOR FÜR OPTISCHE NAHFELDVORRICHTUNG von CASTAGNE, MICHEL, BONNAFE, JACQUES, FILLARD, JEAN, PIERRE

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    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE

    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE von CASTAGNE, MICHEL, BONNAFE, JACQUES, FILLARD, JEAN, PIERRE

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    Near field sensor with cantilever and tip containing optical path for an evanescent wave

    Near field sensor with cantilever and tip containing optical path for an evanescent wave von FILLARD, JEAN PIERRE, CASTAGNE, MICHEL, BONNAFE, JACQUES

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    Method of and apparatus for interferometrically inspecting a surface of an object

    Method of and apparatus for interferometrically inspecting a surface of an object von MONTGOMERY PAUL CHRISTOPHER, FILLARD JEAN-PIERRE

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    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INTERFEROMETRISCHEN INSPEKTION EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTES

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INTERFEROMETRISCHEN INSPEKTION EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTES von MONTGOMERY, PAUL, CHRISTOPHER, FILLARD, JEAN-PIERRE

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    Thermoluminescent imaging device for x=ray pictures etc. - avoiding chemical developing, printing etc. of pictures

    Thermoluminescent imaging device for x=ray pictures etc. - avoiding chemical developing, printing etc. of pictures von JEAN GASIOT, PETER BRAUNLICH ET JEAN-PIERRE FILLARD

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    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT

    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT von MONTGOMERY, PAUL, CHRISTOPHER, FILLARD, JEAN-PIERRE

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    Intelligent sensor for near field optical device

    Intelligent sensor for near field optical device von MICHEL CASTAGNE, JACQUES BONNAFE, JEAN PIERRE FILLARD

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    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE

    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE von CASTAGNE, MICHEL, BONNAFE, JACQUES, FILLARD, JEAN, PIERRE

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    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT

    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT von MONTGOMERY, PAUL, CHRISTOPHER, FILLARD, JEAN-PIERRE

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    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE

    INTELLIGENT SENSOR FOR NEAR FIELD OPTICAL DEVICE von CASTAGNE, MICHEL, BONNAFE, JACQUES, FILLARD, JEAN, PIERRE

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    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT

    METHOD OF AN APPARATUS FOR INTERFEROMETRICALLY INSPECTING A SURFACE OF AN OBJECT von MONTGOMERY, PAUL, CHRISTOPHER, FILLARD, JEAN-PIERRE

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    Method and apparatus for real-time radiation imaging

    Method and apparatus for real-time radiation imaging von BRAUNLICH, PETER F, FILLARD, JEAN-PIERRE, GASIOT, JEAN

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    INTELLIGENTER OPTISCHER SENSOR FÜR OPTISCHE NAHFELDVORRICHTUNG

    INTELLIGENTER OPTISCHER SENSOR FÜR OPTISCHE NAHFELDVORRICHTUNG von FILLARD, JEAN, PIERRE, F-34980 SAINT-GELY-DU-FESC, FR, CASTAGNE, MICHEL, F-34830 CLAPIERS, FR, BONNAFE, JACQUES, F-34000 MONTPELLIER, FR

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    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INTERFEROMETRISCHEN INSPEKTION EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTES

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INTERFEROMETRISCHEN INSPEKTION EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTES von MONTGOMERY, PAUL, CHRISTOPHER, F-34090 MONTPELLIER, FR, FILLARD, JEAN-PIERRE, F-34980 S.-GELY-DU-FESC, FR

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    Microscopies de champ proche optique : application aux semiconducteurs

    Microscopies de champ proche optique : application aux semiconducteurs von Fillard, Jean Pierre, Castagné, Michel, Prioleau, Christel


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