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Modeling the rate-dependent inelastic deformation behavior of porous polycrystalline silver films
von
Letz, S.A.
,
Farooghian, A.
,
Simon, F.B.
,
Schletz, A.
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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Modeling the rate-dependent inelastic deformation of porous polycrystalline silver films: Presentation held at ESREF 2018, 29th European Symposium on Reliability of Electron Device...
von
Letz, Sebastian
,
Farooghian, Azin
,
Simon, Flaviu-Bogdan
,
Schletz, Andreas
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