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Diffraction Methods for Qualitative and Quantitative Texture Analysis of Ferroelectric Ceramics
Veröffentlicht in Materials
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The effects of layering in ferroelectric Si-doped HfO2 thin films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Si Doped Hafnium Oxide—A “Fragile” Ferroelectric System
Veröffentlicht in Advanced electronic materials
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Quantitative texture analysis at the WAND2 and HIDRA diffractometers
Veröffentlicht in Journal of applied crystallography
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