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    Sub-Ångstrom EDX Mapping Enabled by a High-brightness Cold Field Emission Source

    Sub-Ångstrom EDX Mapping Enabled by a High-brightness Cold Field Emission Source von Goodge, Berit, Carlsson, Anna, Bischoff, Maarten, Mohammadi-Gheidari, Ali, Fallag, Gamal, Schwind, Greg, Maunders, Christian, Muller, David, Kourkoutis, Lena

    Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis

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