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Time Domain Noise Analysis of Oversampled CMOS Image Sensors
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Analysis of temporal noise in CMOS photodiode active pixel sensor
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Introduction to the Special Issue on Solid-State Sensors
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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A Nyquist-rate pixel-level ADC for CMOS image sensors
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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