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Measurement of 42material' parameters in multi-quantum-well structures
von
ORTON, J. W
,
FEWESTER, P. F
,
RALPH, H. I
,
GOWERS, J. P
,
DAWSON, P
,
MOORE, K. J
,
DOBSON, P. J
,
CURLING, C. J
,
FOXON, C. T
,
WOODBRIDGE, K
,
DUGGAN, G
Veröffentlicht in
Semiconductor science and technology
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