-
1
-
2
-
3
-
4
Study of hot-carrier effects on power RF LDMOS device reliability
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
5
-
6
Leakage current effects on N-MOSFETs after thermal ageing in pulsed life tests
Veröffentlicht in Microelectronics
VolltextArtikel -
7
-
8
-
9
-
10
-
11
-
12
-
13