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    Test Pattern Dependent FPGA Based System Architecture for JTAG Tests

    Test Pattern Dependent FPGA Based System Architecture for JTAG Tests von Ostendorff, Steffen, Wuttke, Heinz-Dietrich, Sachsse, Jorg, Escobar, Jorge Hernan Meza

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    Localization of Bugs in Processor Designs Using zamiaCAD Framework

    Localization of Bugs in Processor Designs Using zamiaCAD Framework von Tepurov, Anton, Tihhomirov, Valentin, Jenihhin, Maksim, Raik, Jaan, Bartsch, Gunter, Escobar, Jorge Hernan Meza, Wuttke, Heinz-Dietrich


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    Automated Design Error Localization in RTL Designs

    Automated Design Error Localization in RTL Designs von Jenihhin, Maksim, Tsepurov, Anton, Tihhomirov, Valentin, Raik, Jaan, Hantson, Hanno, Ubar, Raimund, Bartsch, Gunter, Escobar, JorgeHernan Meza, Wuttke, Heinz-Dietrich

    Veröffentlicht in IEEE design and test

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