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    Smart Attendance Monitoring Technology for Industry 4.0

    Smart Attendance Monitoring Technology for Industry 4.0 von Nadhan, Archana S., Tukkoji, Chetana, Shyamala, Boosi, Dayanand Lal, N., Sanjeev Kumar, A. N., Mohan Gowda, V., Adhoni, Zameer Ahmed, Endaweke, Melaku

    Veröffentlicht in Journal of nanomaterials

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