Axial Scanning with 900 MeV Alpha Particles von Crowe, K. M., Budinger, T. F., Cahoon, J. L., Elischer, V. P., Huesman, R. H., Kanstein, L. L.

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The Feasibility and Advantages of Commercial Process I/O Systems for Accelerator Control von Belshe, Robert A., Elischer, Victor P., Jacobson, Van

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Gesamt-Literatur des In- und Auslandes von Ury, Hans, Elischer, J.v., Roux, Jean Ch, Hertz, Arthur F., Einhorn, Max, Gofman, J.M., Maliniak, J., Liebmann, L., Wolff, Ludwig, Plitek, P., Schrijver, S., Grossmann, G.

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Gesamt-Literatur des In- und Auslandes von Eisner, Hans, Elischer, J.v., Roux, Jean Ch, Hertz, Arthur F., Einhorn, Max, Gofman, J.M., Maliniak, J., Liebmann, L., Wolff, Ludwig, Plitek, P., Schrijver, S., Grossmann, G.

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