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    Integration of a high‐NA light microscope in a scanning electron microscope

    Integration of a high‐NA light microscope in a scanning electron microscope von ZONNEVYLLE, A.C., TOL, R.F.C., LIV, N., NARVAEZ, A.C., EFFTING, A.P.J., KRUIT, P., HOOGENBOOM, J.P.

    Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)

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    The SECOM Platform: an Integrated CLEM Solution

    The SECOM Platform: an Integrated CLEM Solution von den Hoedt, S.V., Effting, A.P.J., Haring, M.T.

    Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis

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