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High-Temperature Sensitivity of a Depletion-Mode AlGaN/GaN MIS-HEMT
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Scanning Tunneling Microscopy Study of l-Cysteine on Au(111)
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The Effect of HfO2 Overlayer on the Thermal Stability of SiGe Substrate
Veröffentlicht in ECS solid state letters
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EEPROM memory stack with scaled down thickness
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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