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    TRANSMISSION ELRCTRON MICROSCOPY INVESTIGATIONS OF LOW-PRESSURE CVD GROWTH AND STRAIN RELAXATION OF Ge ISLANDS ON Si（110）

    TRANSMISSION ELRCTRON MICROSCOPY INVESTIGATIONS OF LOW-PRESSURE CVD GROWTH AND STRAIN RELAXATION OF Ge ISLANDS ON Si（110） von E.Spiecker L.Zhang H.M.Lu W.Jaeger L.Vescan


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