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Recovery of hot-carrier damage in reoxidized nitrided oxide MOSFET's
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Focused ion beam repair techniques for clear and opaque defects in masks
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Effect of an Al overlayer on interface states in poly-Si gate MOS capacitors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Dynamic hot-carrier stressing of reoxidized nitrided oxide
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Reoxidized nitrided oxides (RNO) for latent ESD-resistant MOSFET dielectrics
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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