Treffer 1 - 3 von 3 für Suche 'Douzi, Chawki', Suchdauer: 0,49s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    PHM method for detecting degradation of GaN HEMT ON resistance, application to power converter

    PHM method for detecting degradation of GaN HEMT ON resistance, application to power converter von Boulzazen, Habib, Douzi, Chawki, Joubert, Eric, Dherbécourt, Pascal, Kadi, Moncef, Fouquet, François

    Veröffentlicht in e-Prime

    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  2. 2
    A novel methodology to characterize LGA packaged GaN power transistors using a mother/daughter board configuration for the reliability qualification in the mild hybrid applications

    A novel methodology to characterize LGA packaged GaN power transistors using a mother/daughter board configuration for the reliability qualification in the mild hybrid applications von Douzi, Chawki, Kadi, Moncef, Dherbecourt, Pascal, Besserour, Mohamed Akram, Joubert, Eric, Fouquet, François


    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  3. 3
    Effet du vieillissement par fatigue électrothermique sur la compatibilité électromagnétique des composants de puissance à base de SiC

    Effet du vieillissement par fatigue électrothermique sur la compatibilité électromagnétique des composants de puissance à base de SiC von Douzi, Chawki

    Volltext bestellen
    Dissertation

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: