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Structural and Dielectric Study of Thin Amorphous Layers of the Ge–Sb–Te System Prepared by RF Magnetron Sputtering
von
Castro-Arata, R. A.
,
Stozharov, V. M.
,
Dolginsev, D. M.
,
Kononov, A. A.
,
Saito, Y.
,
Fons, P.
,
Tominaga, J.
,
Anisimova, N. I.
,
Kolobov, A. V.
Veröffentlicht in
Semiconductors (Woodbury, N.Y.)
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2
Dielectric and structural study of polymer composites based on polyethylene and barium titanate
von
Castro, R. A.
,
Kononov, A. A.
,
Dao, T. H.
,
Dolginsev, D. M.
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Polarization Processes in Thin Layers of Amorphous MoS2 Obtained by RF Magnetron Sputtering
von
Kononov, A. A.
,
Castro-Arata, R. A.
,
Glavnaya, D. D.
,
Stozharov, V. M.
,
Dolginsev, D. M.
,
Saito, Y.
,
Fons, P.
,
Anisimova, N. I.
,
Kolobov, A. V.
Veröffentlicht in
Semiconductors (Woodbury, N.Y.)
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4
Polarization Processes in Thin Layers of Amorphous MoS.sub.2 Obtained by RF Magnetron Sputtering
von
Kononov, A. A
,
Castro-Arata, R. A
,
Glavnaya, D. D
,
Stozharov, V. M
,
Dolginsev, D. M
,
Saito, Y
,
Fons, P
Veröffentlicht in
Semiconductors (Woodbury, N.Y.)
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