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    Comet — A new method for the deterministic test pattern generation in c-circuits

    Comet — A new method for the deterministic test pattern generation in c-circuits von Dokouzyannis, Stavros P, Kontoleon, John M


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    On the modelling of digital circuits for the test pattern generation for device input faults

    On the modelling of digital circuits for the test pattern generation for device input faults von Dokouzyannis, Stavros P.


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